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韩鲁斌; 梁琳; 康勇;
华中科技大学 电气与电子工程学院(电力电子与能量管理教育部重点实验室) 湖北 武汉 430074;
压接IGBT; 热阻测量; 温度分布; 压力分布; 热阻分布;
机译:电路和器件影响并联IGBT模块的运行
机译:测量IGBT模块和压装IGBT的结壳热阻的方法的研究
机译:结温对IGBT开关能量损耗与器件电流之间关系影响的实验研究
机译:在-40°C和+ 200°C之间的IGBT器件上的压接技术研究
机译:介电分离BJT的器件表征及实验测定热阻的热阻
机译:用IGBT H桥和双向降压对低成本4G器件进行控制的压电能量收集
机译:粘合线剥离对IGBT热阻测量影响的研究
机译:可变热阻器件的研究
机译:均匀分布的并联结构IGBT堆栈设备的大容量转换器
机译:包括IGBT和具有并联连接的开关和常开型MOSFET的恒压电路的半导体器件
机译:二极管和IGBT的并联电路及其使用的模块和转换器件
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