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李云; 张利民; 李岚; 张绵;
中国电子科技集团公司第十三研究所;
GaAs; MESFET; 击穿; 偏离;
机译:带有(Ga,ln)P薄表面层的亚微米平面GaAs MESFET中的击穿电压得到改善
机译:利用MBE在低温下生长的GaAs表面层提高了GaAs MESFET的击穿电压
机译:GaAs MESFET平面结构电流-电压和击穿电压特性的修正二维分析模型
机译:表面深度水平对狭窄晶闸GaAs Mesfet的击穿特性的影响
机译:富含Ga的GaAs和GaP(001)表面上有机和无机吸附物的结构,化学和能量学。
机译:GaAs(100)表面制剂对偶氮/ Al2O3 / P-GaAs光伏结构EQE的影响
机译:表面电位对Gaas mEsFET中栅极漏极击穿击穿的影响
机译:高击穿电压mEsFET,具有低温生长的Gaas钝化层和重叠栅极结构。 (重新公布新的可用性信息)
机译:GaAs GaAs的层状GaAs的制造方法以及由其剥离的GaAs纳米片
机译:4英寸GaAs晶片的清洁装置,可改善GaAs晶片的表面质量
机译:化学机械抛光和平坦化刚玉,GaAs,GaP和GaAs / GaP合金表面的方法
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