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吕惠民; 陈光德; 耶红刚; 颜国君; 谷力; 郭金仓; 孙帅涛;
西安理工大学应用物理系;
西安710048;
西安交通大学应用物理系;
西安710049;
AlN纳米线; 光致发光谱; 本征缺陷; 氧杂质;
机译:通过光致发光和压电光热谱研究n型4H-SiC单晶的杂质和缺陷中心
机译:用光致发光和X射线光电子能谱研究ZnO薄膜中的氧空位和间隙氧缺陷
机译:n型4H-SiC单晶的杂质和缺陷中心通过光致发光和压电光热谱研究
机译:电子显微术研究硅和锗纳米线中的缺陷结构和相关杂质。
机译:使用阳极氧化铝模板增强光致发光效率的块状MoS2纳米网格中的结构缺陷
机译:非晶和结晶siO2中的本征缺陷光致发光
机译:一种通过离子迁移谱仪测量氮,氢和氧中杂质浓度的方法
机译:一种通过离子迁移谱法测量氮,氢和氧中杂质浓度的方法。
机译:离子迁移谱法测定氮,氢,氧中杂质浓度的方法
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