几种CMOS VLSI的低功耗BIST技术

摘要

在分析全扫描内建自测试(BIST)较高测试功耗的基础上,总结出几种SMOS VLSI的低功耗BIST技术方案,包括减少待测电路(CUT)输入端的翻转次数、简化线性反馈移位寄存器(LFSR) 结构、部分扫描低功耗BIST方法等。分析结果表明,这些方法不但在保证测试覆盖率的条件下,降低了测试平均功耗和峰值功耗,而且综合应用这几种方法将会使系统功耗指标达到最佳。