退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
郑英奎; 和致经; 吴德馨;
中科院微电子中心;
混合曝光; HFET; T型栅; 工艺研究; 深亚微米栅;
机译:0.25微米双栅氧化层厚度CMOS工艺对多指深亚微米MOS器件闪烁噪声性能的影响
机译:具有低功率和高可靠性的深亚微米互补金属氧化物半导体器件的具有双高k栅氧化层厚度的Pt栅/ AI_2O_3 / p-Si(100)的电和物理分析
机译:器件缩放对深亚微米薄栅氧化物CMOS器件的1 / f噪声性能的影响
机译:STI二极管作为深亚微米(DSM)CMOS工艺中的静电放电(ESD)保护器件的研究
机译:深亚微米器件良率的工艺设计。
机译:栅漏电流在AlGaN / GaN肖特基栅HFET和MISHFET中引起的陷阱
机译:采用浅沟槽隔离的深亚微米VLsI CmOs器件的闭合背栅偏置相关反向窄通道效应模型
机译:深亚微米器件的三维仿真。杂质原子如何影响电导率
机译:用于深亚微米器件工艺的改良凹进式局部隔离工艺
机译:-用于深亚微米器件工艺的改进后的LOCOS隔离工艺
机译:在深亚微米CMOS技术中提高厚栅氧化物接地栅NMOSFET的ESD鲁棒性的注入方法
抱歉,该期刊暂不可订阅,敬请期待!
目前支持订阅全部北京大学中文核心(2020)期刊目录。