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Stephen Cheng; 薛岩明;
模拟电路; 温度; 工艺参数; MOS器件;
机译:线性工艺参数相关性分析的系统方法,该工艺参数对16 nm HKMG体FinFET器件的电特性产生工艺变化影响
机译:深亚微米器件和模拟电路参数对光晕掺杂工艺变化的敏感性及其对电路线性的影响
机译:模拟过程中工作温度对电参数的影响
机译:工艺参数对溶胶 - 凝胶和电沉积工艺制备的氧化锆涂层的影响
机译:评估影响具有永久性色谱柱的井的工作温度的参数。
机译:电液动力喷射印刷中油墨性质和工艺参数对喷射量影响的实验研究
机译:受工艺参数偏差影响的模拟电路测试的生成与验证
机译:磁控溅射工艺参数对非晶碳薄膜电性能的影响
机译:分析工艺参数对色谱,电色谱或电泳测量性能的影响的方法及其用途
机译:用于测量或影响电或电化学参数的电极装置具有电极,该电极包括多个量子点,这些量子点具有受照明影响的电特性
机译:用于至少一个电存储设备的工作参数的开环和/或闭环控制的方法和装置,其中所述工作参数影响电存储设备的老化状态
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