首页> 中文期刊> 《微电子学与计算机》 >一种基于横向PNP管的低失调CMOS带隙基准源

一种基于横向PNP管的低失调CMOS带隙基准源

         

摘要

基于横向寄生PNP管,提出了一种新颖结构的低失调CMOS带腺基准源。该带隙能够降低运放失调电压和镜像电流对基准电压的影响.提高带腺抗工艺失调的能力。仿真结果表明,基准电压为1.2280V,在—40℃~125℃.典型偏差小于2.7mV,温度系数为13.9ppm/℃。该带腺具有较好的工艺稳定性,在各工艺角情况下,失调电压小于±25.3mV.比传统带腺相对精度提高了3.3倍。最后,基于0.35μm CMOS工艺实现了该电压基准源。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号