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梁华国; 陶志勇; 李扬;
合肥工业大学电子科学与应用物理学院;
合肥工业大学计算机与信息学院;
江苏商贸职业学校信息系;
负偏置温度不稳定性; 门替换; 电路老化;
机译:NBTI感知的集成电路设计:一种基于硬件的方法来延长电路的寿命
机译:一种片上传感器,用于测量和补偿模拟电路中由NBTI引起的静态退化
机译:数字电路中活动相关的NBTI老化的设备到电路框架
机译:NBTI诱导的电路老化,通过保护意识门替换技术进行优化
机译:在存在延迟缺陷和NBTI老化的情况下验证电路时序行为。
机译:随机纳米氮化钛晶粒引起的动态功率延迟的特性波动以及全能门纳米线CMOS器件和电路的纵横比效应
机译:NBTI对FinFET sRam影响的统计可靠性分析及使用独立门器件的缓解技术
机译:加拿大核电厂部件老化和服务磨损效应的检测和缓解
机译:使用边缘敏感采样来测量负偏置温度不稳定性(NBTI)和热载流子注入(HCI)老化效应的电路和方法
机译:一种场效应晶体管的制造方法,所述场效应晶体管在所述门的电极和所述互连线之间具有电连接,所述互连线金属自对准,并且电路集成在所述合成物中
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