针对抗老化门替换算法的关键门识别方法

摘要

门替换方法是一种缓解NBTI效应的电路抗老化方法,但在防护的过程中会改变受防护的关键门输出信号,从而影响关键门后续扇出的老化情况.本文提出一种用于识别关键门的有效度量方法和改进的门替换算法,首先建立考虑电路内部节点信息的老化分析框架,并预测电路在生命周期内的老化情况;然后度量关键路径中的门在防护后对电路的优化效果,并以此为指标识别关键门;最后采用门替换算法对关键门进行防护.基于45nm晶体管工艺模型和ISCAS85基准电路的实验结果表明,与现有的门替换算法相比,本文方案能够更精确地识别关键门,缓解电路NBTI老化,平均时延退化改善率达到25.11％,且所需的额外开销较小,优于传统的关键门识别方法.