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光吸收法检测GaxIn1-xAsyP1-y/InP双异质结液相外延片的室温禁带宽度

     

摘要

用双光束分光光度计测定了GaxIn1-xAsyP1-y/InP双异质结外延片中四元层的禁带宽度。并和制得的发光管发射波长及计算值进行比较。部分样品用电子探针阴极萤光法对照。说明光吸收法简便、迅速、可靠。可对液相外延质量提供一定的评价。

著录项

  • 来源
    《半导体光电》|1981年第2期||共页
  • 作者单位

    中国科学院上海冶金研究所;

    中国科学院上海冶金研究所;

    中国科学院上海冶金研究所;

    中国科学院上海冶金研究所;

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