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晶体管的热稳定性及其失效机理研究

         

摘要

<正> 在晶体管可靠性研究中,一般采用各种应力等级的加速寿命试验预计其失效速率。同时,人们也很注重现场应用中器件的失效分析。本文主要是讨论晶体管的热稳定性及其与非热稳定性有关的失效机理,在这里不详细说明可靠性试验方法。

著录项

  • 来源
    《半导体技术》 |1979年第3期|81-87|共7页
  • 作者

    曹普光;

  • 作者单位

    七七四厂;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类
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