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掺杂多晶硅(DOPOS)技术

         

摘要

<正> 掺杂多晶硅技术又叫做DOPOS(Impurity Doped Polycrystalline Silicon)技术。 近几年来,用此种半导体器件技术成功地制出了fT为8000兆赫的单个晶体管和由fT为1000~3000兆赫晶体管构成的集成电路。因而DOPOS技术已引起国内外的重视。 本文仅就DOPOS工艺及特点、DOPOS淀积及检测分析、DOPOS扩散等问题做一简略介绍。

著录项

  • 来源
    《半导体技术》 |1977年第4期|66-71|共6页
  • 作者

  • 作者单位

    北京无线电器件厂;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
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