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王超群;
机译:能量色散X射线荧光台式仪器测量半导体薄膜的厚度:在分子束外延生长的GaN外延层中的应用
机译:单晶X射线衍射分析和立方GaN / GaAs(001)外延层中相含量测量的多重因子和衍射几何因子
机译:X射线荧光光谱法作为确定金属薄膜叠层厚度和成分的方法的适用性:与成像和轮廓测定法的比较
机译:在GaAs上外延生长的单晶GD_2O_3薄膜 - GaAs钝化的新电介质
机译:光谱椭圆形测定法的应用:从单晶Gd3ga5o12到多晶钙钛矿薄膜
机译:使用原子层沉积在GaAs(001)和(111)上外延单晶Y2O3
机译:在高频应用中,在成核量子点阈值以下和附近的InAs层厚度下,调制掺杂N-AlGaAs /(InAs / GaAs)/ GaAs超晶格的分子束外延
机译:mOCVD生长TiO2和VO2薄膜在蓝宝石单晶上的异质外延的X射线衍射研究。
机译:用于制造GaAs材料的单晶层的单晶层的单晶层的方法,用于GaAs材料的单晶层外延生长
机译:制备gaas材料的单晶层的方法和gaas材料的单晶层的外延生长的基质
机译:温度传感器包括由铂薄膜电阻器形成的温度敏感元件,作为单晶衬底表面上的外延层
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