Monte Carlo模拟法进行双能X射线物质识别的研究

摘要

目的提高X射线物质识别的准确性。方法采用Monte Carlo方法对双能X射线物质识别进行模拟。结果得到六种材料识别曲线与原子序数的关系。结论 Monte Carlo方法可以提高安检系统的材料分辨能力。