首页> 中国专利> 利用蒙特卡罗方法模拟双能X射线成像进行物质识别的方法

利用蒙特卡罗方法模拟双能X射线成像进行物质识别的方法

摘要

利用蒙特卡罗方法模拟双能X射线成像进行物质识别的方法,涉及一种双能X射线成像进行物质识别的方法。它是为了解决目前在安检过程中,物质识别准确率低的问题。其方法:步骤一、利用蒙特卡罗方法模拟能量为9MeV和能量为6MeV的电子束轰击钨靶过程,产生轫致辐射,获得X射线谱;步骤二、对步骤一获得的X射线谱进行准直,准直后扫描待测样品,获得扫描图像;步骤三、分析步骤二获得的扫描图像,获得待测样品的识别曲线,根据该识别曲线与物质原子之间的关系,从而实现物质识别。本发明适用于安防检查。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-04-24

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01V5/00 授权公告日:20140604 终止日期:20190509 申请日:20120509

    专利权的终止

  • 2014-06-04

    授权

    授权

  • 2014-06-04

    授权

    授权

  • 2012-11-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01V5/00 申请日:20120509

    实质审查的生效

  • 2012-11-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01V 5/00 申请日:20120509

    实质审查的生效

  • 2012-09-12

    公开

    公开

  • 2012-09-12

    公开

    公开

查看全部

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号