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陈选龙; 李洁森; 黎恩良; 刘丽媛; 方建明;
工业和信息化部电子第五研究所;
广州510610;
中国赛宝实验室可靠性研究分析中心;
中山大学电子与信息工程学院;
广州510275;
集成电路; 失效物理; 失效分析; 金属化缺陷; 光发射显微镜;
机译:基于物理模型的集成电路金属充电设计规则方法
机译:一种基于物理的工程方法,用于计算块状CMOS和SiGe异质结双极晶体管集成电路的软错误率
机译:基于物理的失效方法预测电子元件的寿命和可靠性
机译:精确的失效物理定量方法,可确保集成电路的可靠性
机译:具有交互失效机制的复杂动态系统的概率失效物理建模的Agent自治方法
机译:基于护套电流监测的交叉电缆高压电缆系统故障定位新方法
机译:基于保证模型的网络物理系统故障检测:a 模型失效方法
机译:基于物理的人体太空飞行失效分析与诊断方法
机译:基于时序约束的集成电路的物理放置方法
机译:基于混沌适应度改进方法的集成电路物理设计自动化系统优化处理
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