基于时-空冗余的集成电路老化失效防护方法

摘要

集成电路工艺水平提高的同时,老化效应严重威胁了电路的可靠性.本文针对电路老化导致失效的问题进行研究,提出了一种基于时-空冗余技术的失效防护方法.该方法针对老化的行为特征,采用冗余的时序单元对数据路径进行加固,并通过多时钟技术控制时序单元.实验数据表明,本方法在ISCAS'89电路中的平均面积增长率为41.43％；在冗余时钟相位差达到时钟周期的20％时,可以有效将电路的平均故障间隔时间(MTTF)提高1倍以上.