大功率半导体激光器的可靠性研究

摘要

对InGaAs/AlGaAs和InGaAsP/GaAs有源区含铝的915nm和无铝的808nm腔面镀膜及未镀膜的大功率半导体激光器进行了老化实验.在老化前通过综合参数测试仪测试两种激光器的斜率效率、阈值电流,发现有腔面膜的激光器比无腔面膜的激光器的阈值电流降低25%以上.在1.2倍阈值电流下,恒流老化40h左右,老化后再分别测试它们的阈值电流、功率参数,我们发现在老化后未镀膜的激光器的阈值电流和镀有腔面膜的激光器相比增加25mA以上,输出功率也比镀过腔面膜的减小到了原来的1/2,可见腔面保护对于延长激光器的寿命是很重要的.