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激光能量对脉冲激光沉积法制备ZnO薄膜性能的影响

     

摘要

脉冲激光沉积技术(PLD)易于获得高质量的氧化物薄膜已成为一种重要的制备ZnO薄膜的技术.采用脉冲激光沉积(PLD)(KrF准分子激光器:波长248 nm,频率5 Hz,脉冲宽度20 ns)方法在氧气气氛中以高纯Zn(99.999%)为靶材、在单晶硅和石英衬底表而成功生长了ZnO薄膜.通过X射线衍射仪、表面轮廓仪、荧光光谱仪、紫外可见分光光度计对合成薄膜材料的晶体结构、厚度、光学性质等进行了研究,分析了激光能量变化对其性能的影响.实验结果表明我们使用PLD法可以制备出(002)结晶取向和透过率高于75%的ZnO薄膜,激光能量为450 mJ的ZnO薄膜的发射性能较好,但激光能量的增加不能改善薄膜的透光率.

著录项

  • 来源
    《电子器件》|2009年第4期|725-728|共4页
  • 作者

    贾芳; 曹培江; 曾玉祥;

  • 作者单位

    深圳大学材料学院,深圳,518060;

    深圳市特种功能材料重点实验室,深圳,518060;

    深圳大学材料学院,深圳,518060;

    深圳市特种功能材料重点实验室,深圳,518060;

    深圳大学材料学院,深圳,518060;

    深圳市特种功能材料重点实验室,深圳,518060;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 发光学;
  • 关键词

    ZnO薄膜; 激光能量; 脉冲激光沉积;

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