小儿高热惊厥75例临床与脑电图分析

摘要

目的：探讨小儿高热惊厥（FC）脑电图改变与临床之间的关系。方法：对75例高热惊厥患儿进行发作2天内及2周后EEG描记及分析．探讨EEG改变与小儿年龄、发作时体温、惊厥发作持续时间、复发次数、遗传史与以后癫痫的发作关系。结果：75例患儿2天内及2周后EEG异常率分别为64％、33．3％；2天内及2周后均以小于3岁组异常率高，2周后以惊厥反复发作者、发作持续时间长、低热惊厥组、有遗传史者异常率高。结论：EEG异常率与年龄、发作次数、惊厥持续时间，惊厥发作时体温及家族惊厥史有关，有家族惊厥史者癫痫发生可能性大。