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基于全扫描技术的可测性研究与应用

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摘要

扫描技术已经成为集成电路设计的一个重要组成部分,详细介绍了基于扫描测试的DFT原理和实现步骤,并对扫描测试问题进行分析,最后分析了导致故障覆盖率不同的一些因素.

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来源
《中国集成电路》 |2014年第8期|20-23|共4页
作者
杨圣楠; 王法翔;
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作者单位

福州大学物理与信息工程学院,福建福州,350003;

福州大学物理与信息工程学院,福建福州,350003;

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正文语种 chi
中图分类
关键词
可测性; 全扫描; 扫描链; 故障覆盖率;

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