边界扫描技术在板级可测性设计中的应用

摘要

硬件系统的规模越来越大,复杂程度越来越高,对其进行测试也越来越困难,边界扫描技术很好地解决了传统测试的不足.阐述了JTAG技术的基本原理,从设计方法、优化策略及实现技术等方面,对基于JTAG的PCB可测性设计进行了研究,给出了具体的实现方法,并实现了自动测试系统中数据采集电路板的可测性设计.结果证明该方法有效缩短了测试时间,降低了维修测试费用,具有较大的实用价值.