闪存与反熔丝FPGA防范单一事件扰乱更有效

摘要

单一事件扰乱（Single-event Upset,SEU）对设备可靠性的影响,已逐渐从太空延伸到医疗电子等高可靠性的应用。事实上,FPGA元件各逻辑间的连结技术,将影响元件对于SEU免疫的程度,分析目前闪存、反熔丝与SRAM的FPGA,基于前两技术的FPGA可有效防范SEU问题,而SRAM FPGA则仅能抑制。随着集成电路（IC）线宽不断缩小,元件更容易受高能粒子的影响而发生SEU问题,