首页> 外国专利> Parallel programmable antifuse field programmable gate array device (FPGA) and a method for programming and testing an antifuse FPGA

Parallel programmable antifuse field programmable gate array device (FPGA) and a method for programming and testing an antifuse FPGA

机译:并行可编程反熔丝现场可编程门阵列器件(FPGA)以及用于编程和测试反熔丝FPGA的方法

摘要

The present invention comprises apparatus and a method for simultaneously programming multiple antifuses in a multiple tile field programmable gate array (FPGA). The invention comprises an FPGA having a plurality of logic modules with programmable elements. The logic modules are partitioned into a plurality of individually programmable groups and an isolation device may be coupled between the individually programmable groups of logic modules such that each of the programmable elements in each of the plurality of individually programmable logic modules may be programmed concurrently.
机译:本发明包括用于同时对多瓦片现场可编程门阵列(FPGA)中的多个反熔丝进行编程的装置和方法。本发明包括具有多个具有可编程元件的逻辑模块的FPGA。逻辑模块被划分为多个单独可编程的组,并且隔离装置可以耦合在逻辑模块的各个可编程的组之间,从而可以同时对多个单独可编程的逻辑模块的每个中的每个可编程元件进行编程。

著录项

  • 公开/公告号US7269814B1

    专利类型

  • 公开/公告日2007-09-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SHIN-NAN SUN;WAYNE W. WONG;

    申请/专利号US20060532757

  • 发明设计人 SHIN-NAN SUN;WAYNE W. WONG;

    申请日2006-09-18

  • 分类号G06F17/50;G06F7/38;H01L25;H03K17/693;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 21:03:13

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号