基于深度学习的磁环表面缺陷检测算法

摘要

在磁环的生产制造过程中,常常由于生产环境、制造工艺等因素,难免会使磁环表面出现各种类型的缺陷。针对传统人工检测低效、耗时、检测精度低的缺点,本文提出了一种基于YOLOv3的磁环表面缺陷检测方法。实验结果表明,YOLOv3的平均识别精度达到了96.19%,单张图片检测速度达到了24.46 ms,该方法在磁环缺陷检测上有一定的先进性和有效性。