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李建军; 于军; 李佳; 杨卫明; 吴云翼; 王耘波;
华中科技大学电子科学与技术系;
武汉430074;
Bi3.25La0.75Ti3O12; 铁电性能; sol-gel法; 正交化度;
机译:YSZ(100)上多对SrRuO_3 / Pt(111)电极上的(104)取向Bi_(3.25)La_(0.75)Ti_3O_(12)和Bi_(3.54)Nd_(0.46)Ti_3O_(12)铁电薄膜的微观结构缓冲硅(100)
机译:〜(60)Coγ射线辐照对Bi_(3.25)La_(0.75)Ti_3O_(12)薄膜的微观结构和铁电性能的影响
机译:用于存储器的Bi_(3.25)La_(0.75)Ti_3O_(12)和Bi_(3.25)Pr_(0.75)Ti_3O_(12)薄膜的结构和电学性质
机译:MOD法制备Bi_(3.25)La_(0.75)Ti_3O_(12)和Bi_(3.25)Nd_(0.75)Ti_3O_(12)薄膜的结构和铁电性能
机译:助焊剂生长的铁电薄膜的微观结构演变和畴结构。
机译:共掺杂铋层结构Bi3.25La0.75(Ti1-xMox)3O12陶瓷的结构性质关系
机译:过渡金属掺杂(X = Co,Fe)对铁电Bi3.25La0.75X1Ti2O12的结构,光学性能的影响
机译:退火对金刚石薄膜钛电触头微观结构的影响。
机译:制造铁电薄膜和铁电薄膜元件,铁电薄膜结构和铁电薄膜元件
机译:解决氢退火对铁电电容器影响的方法和结构
机译:铁电薄膜,具有铁电薄膜的基板,具有电容器结构的装置以及铁电薄膜的制造方法
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