Annealing; Deposition; Diamond films; Diamonds; EDB/360102; EDB/426000; Electric Contacts; Microstructure; Ohmic contacts; Spectroscopy; Titanium;
机译:退火温度对n型3C-SiC铝触点电性能和微观结构的影响
机译:退火对具有不同电触点的CVD金刚石辐射探测器X射线诱导的光电流特性的影响
机译:退火的Ti / Al / Ni / Au欧姆接触到AlGaN / GaN异质结构的微观结构与温度相关的电行为之间的相关性
机译:Ni-Au / N-GaN肖特基触点电气和结构性能的热退火效应研究
机译:快速热退火欧姆触点与砷化镓的比较电特性。
机译:工艺退火温度对近β高强度钛合金薄板组织和力学性能的影响
机译:添加剂和退火氛围对MnZn铁氧体薄膜微观结构的影响。