The Chinese University of Hong Kong (Hong Kong);
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机译:高性能VLSI逻辑电路中检测路径延迟故障的测试向量对的特性
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机译:建筑专业de Circuits VLsI pour le Traitemente Numerique du signal(专用VLsI(超大规模集成电路)电路处理数字信号)