University of Illinois at Urbana-Champaign.;
机译:VLSI测试中基于度量的新矢量生成算法
机译:最小最短路径斯坦纳树状化问题的高效算法及其在VLSI物理设计中的应用
机译:通过测试矢量排序[VLSI电路]降低了测试应用期间的功耗
机译:基于遗传算法的多个卡死故障的测试模式生成和VLSI电路的测试功耗降低
机译:用于VLSI电路的内置自测试的划分和详尽测试模式生成的方法。
机译:2345.与医院内艰难梭菌感染数减少相关的测试减少和测试算法的变化
机译:最小最短路径steiner arborescence问题的有效算法及其在VLsI物理设计中的应用
机译:定制LsI / VLsI电路的测试和可测试性的最新评估。第四卷。测试生成