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声明
第一章绪论
1.1引言
1.2半导体制造业的特殊性
1.3飞思卡尔(天津)半导体厂的概况
1.4飞思卡尔(天津)半导体厂的主要问题
1.5本文研究内容、方法与框架结构
第二章提升设备综合效率的方法
2.1TOC方法
2.2 OEE的方法
2.3基于TOC的OEE的方法
2.4TPM方法
第三章飞思卡尔半导体(天津)提升设备综合效率的实践
3.1确定OEE的研究对象
3.2测试生产线的OEE
3.3 OEE损失的因果关系图分析
3.4OEE的改进方案
3.5提高OEE的具体措施
第四章OEE的绩效评价
4.1 OEE的提高对产能影响的分析
4.2 测试生产线产能的提升
4.3 测试生产线的持续控制
结束语
参考文献
附录
致谢