基于嵌入式系统的MCM基板测试技术研究

摘要

随着测试测量技术的不断发展和用户需求的不断增长，嵌入式技术在测试测量领域中的应用日益广泛。基于嵌入式系统的MCM测试测量技术可以极大地增强测量的智能性与灵活性，拓展测量功能，实现MCM多层布线基板通断信息采集与测量之间的有机结合。
　　 本文设计实现了ARM嵌入式系统硬件平台，通过对不同测试方法的对比分析，重点介绍一种单探针和双探针结合的R-C探针通断测量法，并提出了适于MCM多层布线基板通断测试的界定法测试概念。该技术主要应用于工艺布线密度高，基板面积较大，表面质量要求高，收缩率非线性，网络数及点数量多的MCM多层布线基板。
　　 通过对ARM嵌入式系统硬件平台、MCM多层布线基板R-C界定测试法的结合，致力于实现实用化、一体化的MCM多层布线基板通断测试设备。