嵌入式系统的内存测试方法及嵌入式系统

摘要

本发明公开一种嵌入式系统的内存测试方法及嵌入式系统，其方法包括：向存储器中写入预设测试数据；读取所述存储器中写入的预设测试数据作为写出数据；将所述预设测试数据与所述写出数据进行比较，根据比较结果判断内存工作是否正常。本发明通过从外部输入与存储器存储数据类型相应的预设测试数据到芯片，利用芯片内部的逻辑转换在存储器上完成所述预设测试数据的写入和读取操作，根据写入和读取的数据是否相同来判断内存是否工作正常，既不会占用芯片硬件资源，影响系统性能，又能简单高效的测试内存的工作状态，非常实用。