Sch. of ECE, Chungbuk Nat. Univ., Cheong-ju, South Korea;
Sch. of ECE, Chungbuk Nat. Univ., Cheong-ju, South Korea;
Sch. of ECE, Chungbuk Nat. Univ., Cheong-ju, South Korea;
Sch. of ECE, Chungbuk Nat. Univ., Cheong-ju, South Korea;
Sch. of ECE, Chungbuk Nat. Univ., Cheong-ju, South Korea;
Temperature sensors; Delays; Frequency conversion; Random access memory; Inverters; Temperature; Generators;
机译:用于DRAM存储单元中自刷新控制的CMOS集成时间模式温度传感器
机译:带有环形振荡器的CMOS温度传感器,用于移动DRAM自刷新控制
机译:一种用于低功耗移动DRAM自动温度补偿自刷新的耐工艺变化的片上CMOS温度计
机译:DRAM内存单元中自动刷新周期0.35μmCMOS温度传感器的设计
机译:DRAM / eDRAM和3D-DRAM的省电方法,利用工艺变化,温度变化,设备降级和内存访问工作负载变化,以及使用具有服务质量的3D-DRAM的创新的异构存储管理方法。
机译:0.35μmCMOS SPAD的设计表征和分析
机译:6800 - $ MU $ M2电阻的温度传感器,±0.35°C(3 $ SIGMA $)180-NM CMOS不准确