金属材料に対する偏光理論を用いた欠陥と背景反射の識別

摘要

金属は，放射率が低いが赤外線サーモグラフィ装置の性能向上および研究が進み検査事例が報告されている.しかし，反射率が高いため暗幕などで背景反射熱源を隠す処置などが必要であり，手間がかかる状態である.そこで本研究では金属材料に対する偏光理論を利用し，きずからの放射赤外線と背景からの反射赤外線の識別を検証した.