SPDT/MCA, DVIEC, Kapeldreef 75, Leuven, B3001, Belgium;
SPDT/DIP, IMEC, Kapeldreef 75, Leuven, B3001, Belgium;
Philips Research Europe, Kapeldreef 75, Leuven, B3001, Belgium;
机译:扫描扩展电阻显微镜(SSRM)2d载流子分析,用于深亚微米技术中的超浅结表征
机译:利用扫描电容显微镜(SCM)和扫描扩展电阻显微镜(SSRM)对SONOS晶体管进行定性掺杂区域表征
机译:扫描扩散电阻显微镜分析局部阻塞的植入部位
机译:低能量注入制备的超浅结的扩散电阻分布图,并结合了尖峰灯和激光退火工艺的扫描扩散电阻显微镜
机译:使用等离子体浸没离子注入和外延二硅化钴作为掺杂源的超浅结制造。
机译:植入物的扫描电子显微镜研究表明髋骨骨折的头颅髓内钉内侧迁移背后的棘轮机制
机译:双镜片电子全息,扫描电容显微镜(SCM),扫描抗膨胀电阻显微镜(SSRM)比较半导体2-D结表征