Solid State Measurements, Inc. 110 Technology Drive, Pittsburgh, PA 15275;
机译:使用非穿透式四点探针进行超浅结(USJ)薄层电阻测量
机译:基于尺寸的四点探针薄层电阻在激光退火超浅结上的测量比较研究
机译:超浅结的非接触薄层电阻和泄漏电流映射
机译:用非渗透四点探针测量超浅结(USJ)薄层电阻
机译:低电阻超浅结形成的新方法。
机译:通过开尔文探针力显微镜在P-I-N径向结Si纳米线上应用的局部VOC测量
机译:用弹性材料探头测定超浅结(USJ)质量(EM-探针)
机译:半导体测量技术:用于双探针电阻(扩散电阻)和四探针电阻计算的计算机程序集合,REspaC。