Department of Physics, University of Helsinki, P.O. Box 64, 00014, Helsinki, Finland;
rnHelsinki Institute of Physics, P.O. Box 64, 00014, Helsinki, Finland;
Department of Physics, University of Helsinki, P.O. Box 64, 00014, Helsinki, Finland;
Department of Physics, University of Helsinki, P.O. Box 64, 00014, Helsinki, Finland;
Department of Physics, University of Helsinki, P.O. Box 64, 00014, Helsinki, Finland Helsinki Institute of Physics, P.O. Box 64, 00014, Helsinki, Finland;
et al;
Scanning White Light Interferometry; LED; Infrared; MEMS;
机译:使用超连续谱源扫描白光干涉仪
机译:通过白光垂直扫描干涉法检查用于扫描电化学显微镜的超微电极,并通过电沉积金填充凹入式尖端
机译:使用白光和热辐射源扫描衍射光摄影
机译:混合光源,用于扫描基于白光干涉的MEMS质量控制
机译:用白光干扰源进行图像处理。
机译:基于横向扫描白色光干涉测量的集成散斑的位移测量
机译:利用两波长光源抑制白光干涉法中的辅助条纹
机译:通过激光电离飞行时间质谱和扫描隧道显微镜观察激光诱导的烧蚀和固体蒸发中的团簇形成。