Inst. of Electron., National Chiao-Tung Univ., Hsinchu;
机译:设计自动化可抑制电缆放电事件(CDE)在90 nm CMOS ASIC中引起的闩锁
机译:RF CMOS和BiCMOS硅锗技术中静电放电保护电路的自动化设计系统方法和策略
机译:基于可靠性模型的第五代新型无线电通信亚6-GHz频段RFCMOS收发器前端电路的可靠性评估和重新设计方法
机译:CMOS技术中评估集成电路电缆放电事件(CDE)可靠性的方法
机译:绝缘体上硅CMOS技术中对模拟集成电路的单事件影响的分析和表征。
机译:用于神经科学和基于细胞的生物传感器的多电极阵列中的CMOS集成电路技术的商业化
机译:超薄柔性包装CMOS RF集成电路的射频可靠性研究
机译:用于定制高可靠性和抗辐射集成电路的三种微米CmOs技术