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Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06

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1.Tutorial 1: Emerging Technologies for VLSI Design

机译：教程1：VLSI设计的新兴技术
- 作者：Joshi R.;Banerjee K.;DeHon A.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
2.Successful IP Business Models

机译：成功的IP商业模式
- 作者：Di Ma
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
3.Session EP1: Power Management and Optimization Challenges for Sub 90nm CMOS Designs- What is the Real Cost of Long Battery Life?

机译：会议EP1：低于90nm CMOS设计的电源管理和优化挑战-延长电池寿命的实际成本是多少？
- 作者：Santarini M.;Chatterjee P.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
4.Adding Manufacturability to the Quality of Results

机译：为结果质量增加可制造性
- 作者：Camposano R.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
5.Device and Technology Challenges for Nanoscale CMOS

机译：纳米级CMOS的设备和技术挑战
- 作者：Wong H.-S.P.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
6.Future Memory Technology Trends and Challenges

机译：未来的存储技术趋势和挑战
- 作者：Changhyun Kim
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
7.Who is really responsible for quality throughout the design process?

机译：谁真正对整个设计过程的质量负责？
- 作者：Wilson R.;Overhauser D.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
8.Minimizing ohmic loss in future processor IR events

机译：最小化未来处理器IR事件中的欧姆损耗
- 作者：Budnik M.M.;Roy K.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
9.SMM: scalable analysis of power delivery networks by stochastic moment matching

机译：SMM：通过随机矩匹配可扩展性分析输电网络
- 作者：Kahng A.B.;Liu B.;Tan S.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
10.ConvexSmooth: a simultaneous convex fitting and smoothing algorithm for convex optimization problems

机译：ConvexSmooth：凸优化问题的同时凸拟合和平滑算法
- 作者：Roy S.;Chen C.C.-P.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
11.Low-leakage SRAM design with dual V/sub t/ transistors

机译：具有双V / sub t /晶体管的低泄漏SRAM设计
- 作者：Amelifard B.;Fallah F.;Pedram M.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
12.Core network interface architecture and latency constrained on-chip communication

机译：核心网络接口架构和延迟受限制的片上通信
- 作者：Bhojwani P.;Mahapatra R.N.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
13.Partial selective encryption: an improved system for protecting VLSI design data in the OASIS format

机译：部分选择性加密：一种改进的系统，用于保护OASIS格式的VLSI设计数据
- 作者：Kulkarni A.P.;Grebinski T.J.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
14.Study of floating fill impact on interconnect capacitance

机译：浮动填充对互连电容影响的研究
- 作者：Kahng A.B.;Samadi K.;Sharma P.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
15.The challenges and impact of parasitic extraction at 65 nm

机译：65 nm寄生提取的挑战和影响
- 作者：Chow K.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
16.A mixed boundary element method for extracting frequency-dependent inductances of 3D interconnects

机译：提取3D互连的频率相关电感的混合边界元方法
- 作者：Changhao Yan;Wenjian Yu;Zeyi Wang
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
17.Simultaneous fine-grain sleep transistor placement and sizing for leakage optimization

机译：同时细粒度的睡眠晶体管放置和尺寸调整，以优化泄漏
- 作者：Wang Yu;Lin Hai;Yang Huazhong;Luo Rong;Wang Hui
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
18.Dual-Vt design of FPGAs for subthreshold leakage tolerance

机译：FPGA的双Vt设计以实现亚阈值泄漏容限
- 作者：Kumar A.;Anis M.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
19.Gate sizing and replication to minimize the effects of virtual ground parasitic resistances in MTCMOS designs

机译：栅极尺寸调整和复制可最大程度地减小MTCMOS设计中虚拟接地寄生电阻的影响
- 作者：Chanseok Hwang;Changwoo Kang;Pedram M.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
20.Impact of gate-length biasing on threshold-voltage selection

机译：栅极长度偏置对阈值电压选择的影响
- 作者：Kahng A.B.;Muddu S.;Sharma P.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
21.FASER: fast analysis of soft error susceptibility for cell-based designs

机译：FASER：基于单元的设计的软错误敏感性的快速分析
- 作者：Bin Zhang;Wei-Shen Wang;Orshansky M.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
22.Diagnosis and design for diagnosability for Internet routers

机译：Internet路由器可诊断性的诊断和设计
- 作者：Barford L.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
23.Enabling quality and schedule predictability in SoC design using HandoffQC

机译：使用HandoffQC在SoC设计中实现质量和进度可预测性
- 作者：Karmakar B.J.;Chakravarty V.K.;Venkatraman R.;Rao J.C.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
24.Transaction level error susceptibility model for bus based SoC architectures

机译：基于总线的SoC架构的事务级别错误敏感性模型
- 作者：Lin I.C.;Srinivasan S.;Vijaykrishnan N.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
25.Question: DRC or DfM? Answer: FMEA and ROI

机译：问题：DRC还是DfM？答：FMEA和投资回报率
- 作者：Balasinski A.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
26.Statistical analysis of capacitance coupling effects on delay and noise

机译：电容耦合对延迟和噪声影响的统计分析
- 作者：Narasimha U.;Abraham B.;Nagaraj NS
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
27.Author Index

机译：作者索引
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
28.On N-detect pattern set optimization

机译：关于N检测模式集优化
- 作者：Yu Huang
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
29.Delay fault diagnosis for nonrobust test

机译：延迟故障诊断以进行非鲁棒测试
- 作者：Mehta V.J.;Zhiyuan Wang;Marek-Sadowska M.;Kun-Han Tsai;Rajski J.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
30.Yield improvement by local wiring redundancy

机译：通过本地布线冗余提高产量
- 作者：Bickford J.;Buhler M.;Hibbeler J.;Koehl J.;Muller D.;Peyer S.;Schulte C.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
31.Clock distribution architectures: a comparative study

机译：时钟分配架构：比较研究
- 作者：Yeh C.;Wilke G.;Chen H.;Reddy S.;Nguyen H.;Miyoshi T.;Walker W.;Murgai R.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
32.Post-layout gate sizing for interconnect delay and crosstalk noise optimization

机译：布局后栅极大小调整，以实现互连延迟和串扰噪声优化
- 作者：Hanchate N.;Ranganathan N.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
33.Thermal trends in emerging technologies

机译：新兴技术的热趋势
- 作者：Link G.M.;Vijaykrishnan N.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
34.New generation of predictive technology model for sub-45nm design exploration

机译：用于45nm以下设计探索的新一代预测技术模型
- 作者：Wei Zhao;Yu Cao
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
35.Logic SER reduction through flip flop redesign

机译：通过触发器重新设计减少逻辑SER
- 作者：Joshi V.;Rao R.R.;Blaauw D.;Sylvester D.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
36.Time redundancy based scan flip-flop reuse to reduce SER of combinational logic

机译：基于时间冗余的扫描触发器重用，以减少组合逻辑的SER
- 作者：Elakkumanan P.;Prasad K.;Sridhar R.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
37.Method to evaluate cable discharge event (CDE) reliability of integrated circuits in CMOS technology

机译：CMOS技术中评估集成电路电缆放电事件（CDE）可靠性的方法
- 作者：Tai-Xiang Lai;Ming-Dou Ker
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
38.Analysis of process variation's effect on SRAM's read stability

机译：分析工艺变化对SRAM读取稳定性的影响
- 作者：Chung-Kuan Tsai;Marek-Sadowska M.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
39.Dual-K versus dual-T technique for gate leakage reduction: a comparative perspective

机译：用双K与双T技术减少栅极泄漏的比较观点
- 作者：Mohanty S.P.;Velagapudi R.;Kougianos E.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
40.SRAM local bit line access failure analyses

机译：SRAM本地位线访问故障分析
- 作者：Elakkumanan P.;Kuang J.B.;Nowka K.;Sridhar R.;Kanj R.;Nassif S.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
41.Equivalence checking of C programs by locally performing symbolic simulation on dependence graphs

机译：通过在依赖图上局部执行符号模拟来对C程序进行等价性检查
- 作者：Matsumoto T.;Saito H.;Fujita M.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
42.Processing rate optimization by sequential system floorplanning

机译：通过顺序系统布局优化处理速率
- 作者：Jia Wang;Ping-Chih Wu;Hai Zhou
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
43.Fast Boolean matching with don't cares

机译：无关紧要的快速布尔匹配
- 作者：Zile Wei;Chai D.;Kuehlmann A.;Newton A.R.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
44.A methodology for layout aware design and optimization of custom network-on-chip architectures

机译：布局感知设计和自定义片上网络体系结构优化的方法
- 作者：Srinivasan K.;Chatha K.S.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
45.Best Paper Award

机译：最佳论文奖
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
46.The use of the manufacturing sensitivity model forms to comprehend layout manufacturing robustness for use during device design

机译：使用制造敏感度模型表格来理解布局制造的稳健性，以便在设备设计期间使用
- 作者：Melvin L.S.;Zhang D.N.;Strozewski K.J.;Wolfer S.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
47.Language-based high level transaction extraction on on-chip buses

机译：片上总线上基于语言的高级事务提取
- 作者：Yi-Le Huang;Chun-Yao Wang;Yeh R.;Shih-Chieh Chang;Yung-Chih Chen
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
48.Clock skew scheduling under process variations

机译：流程变化下的时钟偏斜调度
- 作者：Xinjie Wei;Yici Cai;Xianlong Hong
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
49.A CMOS thermal sensor and its applications in temperature adaptive design

机译：CMOS热传感器及其在温度自适应设计中的应用
- 作者：Qikai Chen;Meterelliyoz M.;Roy K.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
50.Critical path analysis considering temperature, power supply variations and temperature induced leakage

机译：考虑温度，电源变化和温度引起的泄漏的关键路径分析
- 作者：Peng Li
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
51.Non-physical pseudo-wave-based modal decoupling technique of multi-coupled coplanar transmission lines with homogeneous dielectric media

机译：具有均质介质的多耦合共面传输线的基于非物理伪波的模态解耦技术
- 作者：Seongkyun Shin;Yungseon Eo
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
52.Design space exploration of RTL datapaths using Rent parameter based stochastic wirelength estimation

机译：基于Rent参数的随机线长估计对RTL数据路径的设计空间探索
- 作者：Krishnan V.;Katkoori S.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
53.Advances in computation of the maximum of a set of random variables

机译：一组随机变量最大值的计算进展
- 作者：Sinha D.;Hai Zhou;Shenoy N.V.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
54.Localized on-chip power delivery network optimization via sequence of linear programming

机译：通过线性编程序列进行局部片上功率传输网络优化
- 作者：Fan J.;I-Fan Liao;Tan S.X.-D.;Yici Cai;Xianlong Hong
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
55.Analysis of pulse signaling for low-power on-chip global bus design

机译：低功耗片上全局总线设计的脉冲信号分析
- 作者：Min Chen;Yu Cao
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
56.Interconnect and thermal-aware floorplanning for 3D microprocessors

机译：3D微处理器的互连和热感知布局
- 作者：Hung W.-L.;Link G.M.;Yuan Xie;Vijaykrishnan N.;Irwin M.J.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
57.METS: a metric for electro-thermal sensitivity, and its application to FinFETs

机译：METS：电热灵敏度的度量标准，及其在FinFET中的应用
- 作者：Swahn B.;Hassoun S.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
58.Probabilistic delay budgeting for soft realtime applications

机译：软实时应用的概率延迟预算
- 作者：Ghiasi S.;Po-Kuan Huang
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
59.Fast sequential cell noise immunity characterization using meta-stable point of feedback loop

机译：使用亚稳态反馈环点快速进行顺序细胞噪声抗扰度表征
- 作者：Oh N.;Li Ding;Kasnavi A.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
60.Power islands: a high-level technique for counteracting leakage in deep sub-micron

机译：功率岛：应对深亚微米泄漏的高级技术
- 作者：Dal D.;Nunez A.;Mansouri N.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
61.Simultaneous statistical delay and slew optimization for interconnect pipelines

机译：互连管道的同时统计延迟和压摆优化
- 作者：Havlir A.;Pan D.Z.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
62.System-level SRAM yield enhancement

机译：系统级SRAM良率提高
- 作者：Kurdahi F.J.;Eltawil A.M.;Young-Hwan Park;Kanj R.N.;Nassif S.R.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
63.Impact of NBTI on SRAM read stability and design for reliability

机译：NBTI对SRAM读取稳定性和可靠性设计的影响
- 作者：Kumar S.V.;Kim K.H.;Sapatnekar S.S.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
- Cache;
- Negative Bias Temperature Instability (NBTI);
- Reaction-Diffusion (R-D) Model.;
- SRAM;
- Static Noise Margin (SNM);
64.Efficient model update for general link-insertion networks

机译：通用链接插入网络的有效模型更新
- 作者：Zhuo Feng;Peng Li;Jiang Hu
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
65.Using abstraction for efficient formal verification of pipelined processors with value prediction

机译：使用抽象对带有价值预测的流水线处理器进行有效的形式验证
- 作者：Velev M.N.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
66.A technique for estimating the difficulty of a formal verification problem

机译：一种估算形式验证问题难度的技术
- 作者：Ghosh I.;Prasad M.R.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
67.A formal verification method of scheduling in high-level synthesis

机译：高级综合中调度的形式验证方法
- 作者：Karfa C.;Mandal C.;Sarkar D.;Pentakota S.R.;Reade C.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
68.Welcome Notes

机译：欢迎致辞
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
69.Conference at a Glance

机译：会议一览
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
70.Variational interconnect delay metrics for statistical timing analysis

机译：可变互连延迟度量用于统计时序分析
- 作者：Ghanta P.;Vrudhula S.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
71.Analysis and experimental results of an FPGA-based strategy for fast production test of high resolution ADCs

机译：基于FPGA的高分辨率ADC快速生产测试策略的分析和实验结果
- 作者：De Venuto D.;Reyneri L.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
72.Exploring the ability of oscillation based test for testing continuous-time ladder filters

机译：探索基于振动的测试能力以测试连续时间梯形滤波器
- 作者：Catalano J.L.;Peretti G.;Romero E.;Marques C.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
73.Enhancement of signal integrity and power integrity with embedded capacitors in high-speed packages

机译：高速封装中的嵌入式电容器可增强信号完整性和电源完整性
- 作者：Srinivasan K.;Muthana P.;Mandrekar R.;Engin E.;Choi J.;Swaminathan M.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
74.Formal verification of pipelined microprocessors with delayed branches

机译：具有延迟分支的流水线微处理器的形式验证
- 作者：Velev M.N.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
75.Reducing the data switching activity on serial link buses

机译：减少串行链路总线上的数据交换活动
- 作者：Ghoneima M.;Ismail Y.;Khellah M.;Vivek De
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
76.Efficient multiphase test set embedding for scan-based testing

机译：高效的多相测试集嵌入，用于基于扫描的测试
- 作者：Kalligeros E.;Kavousianos X.;Nikolos D.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
77.Evaluation of collapsing methods for fault diagnosis

机译：塌陷故障诊断方法的评估
- 作者：Adapa R.;Tragoudas S.;Michael M.K.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
78.Jitter decomposition by time lag correlation

机译：时滞相关的抖动分解
- 作者：Qingqi Dou;Abraham J.A.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
79.A low input, low-power dissipation CMOS ADC

机译：低输入，低功耗CMOS ADC
- 作者：Biye Wang;Lili He;Morris Jones
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
80.gmTest: an industry-wide database of VLSI layouts for quality control

机译：gmTest：用于质量控制的VLSI布局的行业范围数据库
- 作者：Kulkarni A.P.;Grebinski T.J.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
81.Accurate thermal analysis considering nonlinear thermal conductivity

机译：考虑非线性导热系数的精确热分析
- 作者：Ramalingam A.;Liu F.;Nassif S.R.;Pan D.Z.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
82.A watermarking system for IP protection by buffer insertion technique

机译：通过缓冲区插入技术实现IP保护的水印系统
- 作者：Guangyu Sun;Zhiqiang Gao;Yi Xu
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
83.Transistor-level optimization of supergates

机译：超级门的晶体管级优化
- 作者：Kagaris D.;Haniotakis T.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
84.Pre-layout inductive corners for advanced digital design interconnect: modeling and silicon validation

机译：用于高级数字设计互连的预布局感应角：建模和芯片验证
- 作者：David L.;Martin S.;Cregut C.;Balossier E.;Huret F.;Nyer F.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
85.LOTUS: leakage optimization under timing uncertainty for standard-cell designs

机译：莲花：在时序不确定性下针对标准单元设计的泄漏优化
- 作者：Bhardwaj S.;Vrudhula S.;Yu Cao
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
86.System-level design methodology with direct execution for multiprocessors on SoPC

机译：在SoPC上直接执行多处理器的系统级设计方法
- 作者：Mouhoub R.B.;Hammami O.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
87.Bringing manufacturing into design via process-dependent SPICE models

机译：通过与过程相关的SPICE模型将制造纳入设计
- 作者：Tiramala S.;Mahotin Y.;Lin X.;Moroz V.;Smith L.;Krishnamurthy S.;Bomholt L.;Pramanik D.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
88.Stress-aware design methodology

机译：压力感知设计方法
- 作者：Moroz V.;Smith L.;Xi-Wei Lin;Pramanik D.;Rollins G.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
89.A DFM methodology to evaluate the impact of lithography conditions on the speed of critical paths in a VLSI circuit

机译：一种DFM方法，用于评估光刻条件对VLSI电路中关键路径速度的影响
- 作者：Wright P.;Minghui Fan
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
90.Participating Organizations

机译：参与组织
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
91.On optimizing scan testing power and routing cost in scan chain design

机译：在扫描链设计中优化扫描测试功能和路由成本
- 作者：Li-Chung Hsu;Hung-Ming Chen
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
92.An improved method for identifying linear dependencies in path delay faults

机译：一种识别路径延迟故障中线性相关性的改进方法
- 作者：Flanigan E.;Haniotakis T.;Tragoudas S.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
93.An improved AMG-based method for fast power grid analysis

机译：一种改进的基于AMG的快速电网分析方法
- 作者：Cheng Zhuo;Jiang Hu;Kangsheng Chen
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
94.Improvements to CBCM (charge-based capacitance measurement) for deep submicron CMOS technology

机译：用于深亚微米CMOS技术的CBCM（基于电荷的电容测量）的改进
- 作者：Bach R.;Davis B.;Laubhan R.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
95.Design of a single event upset (SEU) mitigation technique for programmable devices

机译：针对可编程设备的单事件不正常（SEU）缓解技术的设计
- 作者：Baloch S.;Arslan T.;Stoica A.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
96.A low-leakage high-speed monotonic static CMOS 64b adder in a dual gate oxide 65-nm CMOS technology

机译：采用双栅极氧化物65 nm CMOS技术的低泄漏高速单调静态CMOS 64b加法器
- 作者：Bastani A.;Zukowski C.A.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
97.Leakage biased sleep switch domino logic

机译：泄漏偏置睡眠开关多米诺逻辑
- 作者：Zhiyu Liu;Kursun V.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
- Domino logic;
- dual threshold voltage;
- gate oxide tunneling;
- sleep mode;
- subthreshold leakage current.;
98.Power-aware test pattern generation for improved concurrency at the core level

机译：功耗感知测试模式生成，可在核心级别提高并发性
- 作者：Abdulrahman A.;Tragoudas S.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
99.Efficient signal integrity verification method of multi-coupled RLC interconnect lines with asynchronous circuit switching

机译：具有异步电路切换的多耦合RLC互连线的高效信号完整性验证方法
- 作者：Taeyong Je;Yungseon Eo
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年
100.A totally self-checking S-box architecture for the advanced encryption standard

机译：完全自我检查的S-box架构，用于高级加密标准
- 作者：Matthews A.;Lala P.K.
- 会议名称：《Quality Electronic Design, 2006. ISQED '06》 | 2006年