机译:使用发射傅里叶变换红外光谱法测量落射膜厚度。二。实时原位过程监控
机译:太赫兹在线传感器,用于在薄膜包衣过程中实时直接测量单个片剂的包衣厚度
机译:多通道过程监控器,用于在干法蚀刻和沉积中实时测量薄膜厚度和速率
机译:原位膜厚度测量,用于实时监测和控制高级光致抗蚀剂轨道涂层系统
机译:实时原位化学传感,基于传感器的膜厚计量和W-CVD工艺中的工艺控制。
机译:Cr2AlC薄膜的原位电阻率测量法远程跟踪相变
机译:用于高级光刻胶磁道涂层系统的实时监测和控制的原位膜厚测量
机译:聚合物薄膜和涂层的红外干涉厚度测量