Electronics Device RD Center, DENSO CORPORATION Ashinoya, Kota-cho, Nukata-gun, Aichi Pref., 444-0193 Japan;
机译:低温A-GE晶片键合制造的不同粘合结构的界面特性及晶片键合GE / Si光电装置的应用
机译:评估绝缘体上键合硅(SOI)晶片和键合SOI晶片上PIN光电二极管的特性
机译:用于生物医学应用的SOI-MEMS开关的晶圆级密封封装和设备测试
机译:使用键合SOI晶圆的器件应用
机译:三维晶片键合磷化铟光子波导器件。
机译:用树脂粘合金刚石锯锯制线速对相变硅晶片中的相变和残余应力的影响
机译:界面电荷对晶圆键合碳化硅功率器件开发的影响
机译:保税硅蓝宝石晶圆和器件。 (重新公布新的可用性信息)。