首页> 外文会议>2018年第65回応用物理学会春季学術講演会講演予稿集 >非平衡酸窒素プラズマアシストPLD 法によるZnO 薄膜の製膜Ⅱ
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非平衡酸窒素プラズマアシストPLD 法によるZnO 薄膜の製膜Ⅱ

机译:非平衡氧氮化物等离子体辅助PLD方法形成ZnO薄膜II

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摘要

窒素を用いた大気圧非平衡プラズマ中に存在するN2 2nd positive system(N2 2ps) 1) やNO-systemrn(NO- などの活性種の減圧下における寿命や酸素添加の効果などを検討しており、大気から1 Torrrn程度まで減圧してもこれらの活性種を利用できることが明らかになっている3)。これまでに、これらrnの活性種を用いたプラズマCVD法によりZnO薄膜を作成し、電子濃度の大幅な低減と窒素のドーピンrnグに成功している4)。本プラズマをアシスト源として用いたPLD法によって作製されたZnO薄膜中にrnおいても窒素の固溶は確認されたが、電子濃度の低減には至らなかった3)。放電領域から3cm程度離rnれた基板部分における酸化に寄与できる活性種を増加させる必要があると考え、窒素ガスへの酸素rn添加依存性や放電電圧依存性について検討した。
机译:N2第二正系统(N2 2ps)1)和NO-系统(NO-)存在于常压非平衡等离子体中,使用氮气在减压下存在,其寿命和氧含量。我们正在研究添加等的影响,并且已经澄清,即使从大气中将压力降低到大约1 Torrrn,也可以使用这些活性物质。迄今为止,已经通过使用这些rn的活性物质通过等离子体CVD方法形成了ZnO薄膜,并成功地大幅度降低了电子浓度并用氮掺杂了氮4)。使用该等离子体作为辅助源,通过PLD法制得的ZnO薄膜中,虽然在Zn中确认了氮的固溶体,但电子浓度并未降低3)。我们认为有必要增加可能有助于在距放电区域约3cm的衬底部分中氧化的活性种的数量,并且研究了氧对氮气的依赖性和放电电压的依赖性。

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