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【24h】

非平衡酸窒素プラズマアシストPLD 法によるZnO 薄膜の製膜Ⅱ

机译:非平衡氮等离子体密封PLD方法II的ZnO薄膜膜形成ZnO薄膜

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摘要

窒素を用いた大気圧非平衡プラズマ中に存在するN2 2nd positive system?(N2 2ps) 1) やNO-??system (NO-?????? などの活性種の減圧下における寿命や酸素添加の効果などを検討しており、大気から1 Torr 程度まで減圧してもこれらの活性種を利用できることが明らかになっている3)。これまでに、これら の活性種を用いたプラズマCVD法によりZnO薄膜を作成し、電子濃度の大幅な低減と窒素のドーピン グに成功している4)。本プラズマをアシスト源として用いたPLD法によって作製されたZnO薄膜中に おいても窒素の固溶は確認されたが、電子濃度の低減には至らなかった3)。放電領域から3cm程度離 れた基板部分における酸化に寄与できる活性種を増加させる必要があると考え、窒素ガスへの酸素 添加依存性や放電電圧依存性について検討した。
机译:氮气第二阳性系统存在于大气压非平衡等离子体2PS)1),并利用- ???系统(NO -寿命和氧活性物种如减压显然,即使添加的效果被认为是与从大气压至约1托3内的压力),这些活性种都可以使用。到目前为止,在ZnO薄膜通过等离子体CVD使用这些活性物质,在电子浓度显著降低和氮掺杂4)制备。氮的固溶体也被证实在通过PLD法制造ZnO薄膜使用此等离子体作为辅助源,但它不是能够降低电子浓度3)。据认为,可在衬底部分有助于氧化活性种从放电区通过分离约3厘米,并且检查氧添加依赖性和放电电压的依赖于氮气。

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