Toppan Electronics Inc., 1000 River Street, Essex Junction, VT 05452;
IBM Systems and Technology Group, 1000 River Street, Essex Junction, VT 05452;
IBM systems and Technology Group, Hopewell Junction, NY 12533;
Toppan Printing Co., Ltd. 21-33 Nobidome 7-cho;
机译:B_4C覆盖层用于极紫外掩模对使用投影电子显微镜检查图案掩模的敏感性的影响
机译:使用空白检查,图案化掩模检查和晶圆检查来评估极端紫外线掩模缺陷
机译:使用EUV光发射电子显微镜检查EUVL掩模的空白缺陷和图案化掩模
机译:传输和反射光检查对掩模检查性,缺陷敏感性和掩模设计规则限制的影响
机译:EUV掩模技术的主要挑战:光化掩模检测和掩模3D效果。
机译:面具短缺期间的最后一个度假略有策略:在Covid-19大流行期间布料面罩的最佳设计特征以及一次性面罩的净化
机译:B4C覆盖层对极端紫外线掩模的影响对使用投影电子显微镜图案化掩模检查的灵敏度