CAE, Semiconductor RD Center, Samsung Electronics Co., Ltd, San #16, Banwol-Dong, Hwasung-City, Gyeonggi-Do, Korea;
design for manufacturability; restricted design rule; process window verification; 1D/1.5D/2D test pattern; focus exposure matrix data; process margin;
机译:基于布局的高可靠性设备的测试覆盖率验证
机译:具有简单寻址功能的多个内存模块上基于窗口的图像处理的内存分配
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机译:利用IBm或RCa随机存取大容量存储器件存储命令和控制信息处理系统数据库的技术