Lehigh University, Bethlehem, PA 18015, USA;
机译:瞬态SPICE模型,用于RF MEMS电容开关中的介电充电效应
机译:基板对微机电电容开关的射频功率处理能力的影响
机译:长期RF老化对MEMS电容开关的介电充电的影响
机译:RF燃烧微机电电容开关的介质充电特性
机译:高性能RF MEMS金属接触开关和电容开关。
机译:机械冲击激活的电容式开关的性能表征
机译:RF mEms电容式开关中介电充电效应的瞬态spICE模型
机译:RF mems电容式开关中介电充电效应的瞬态spice模型(预印本)