condensation; crystal defects; crystal structure; elemental semiconductors; etching; impurities; porosity; silicon; silicon compounds; Si; SiO; crystal phase condensation; crystalline defects formation; crystalline phase density; dioxide etching; dioxide po;
机译:二氧化硅的缺陷理论和缺陷过程
机译:二氧化硅薄层中的缺陷对Fe / SiO2 / Si(001)体系中硅化过程的影响
机译:无边界氮化硅缺陷行为及其对单个多晶硅闪存中初始数据丢失的影响
机译:初始硅缺陷对二氧化硅缺陷形成过程的影响
机译:在二氧化f和基于二氧化硅的金属氧化物-硅结构中,与偏置温度不稳定性和应力引起的泄漏电流有关的缺陷的磁共振观察。
机译:氢等离子体处理非晶碳化硅基体减少硅量子点超晶格结构缺陷的研究
机译:初始缺陷对离子掺杂硅中缺陷形成过程的影响
机译:硅/二氧化硅界面附近的EsR中心和电荷缺陷。