机译:全面研究EOS / ESD事件下的MEMS行为:击穿特性,电介质充电和实际固化
机译:ESD事件时间尺度内的栅极电介质击穿
机译:RF-MEMS开关的介电层:设计和研究防止静电带电的适当结构
机译:全面研究EOS / ESD事件下的MEMS行为:击穿特性,电介质充电和实际固化
机译:RF MEMS电容开关中介电充电效应的表征和建模
机译:通过电荷中和防止纳米孔膜的介电击穿
机译:直流高电场交联聚乙烯空间充电行为与介电击穿的相关性
机译:射频mEms电容开关介质充电效应的建模与表征