Silicon carbide; Crystals; Temperature distribution; Lattices; Substrates; Shape; Crystal growth;
机译:通过升华晶棒生长技术在(1120)6H-SiC衬底上生长的6H-SiC单晶中的空心缺陷的减少
机译:通过光致发光和压电光热谱研究n型4H-SiC单晶的杂质和缺陷中心
机译:通过光致发光和压电光热谱研究n型4H-SiC单晶的杂质和缺陷中心
机译:升华法生长2英寸6H-SiC单晶:α-和β-SiC粉末的比较
机译:基于4H-SiC N型外延层和像素Cdznte单晶装置的高分辨率辐射检测器
机译:源材料的形态变化对4H-SiC单晶生长界面的影响
机译:具有低载体浓度的单晶N型3C-SiC(100)的压电厅效应和基本压电厅系数
机译:生长大型低缺陷单晶的方法