integrated circuit testing; micromechanical devices; thermal conductivity measurement; thin film devices; LPCVD polycrystalline silicon; LPCVD silicon oxide; electrical instrumentation; evaporated aluminum; micromachined test structures; thermal MEMS fabrication; thermal conductivity; thin films; wafer-level measurement;
机译:通过使用双夹紧梁测量热敏电导率和多晶硅薄膜的热膨胀系数
机译:LNE高温调制光热辐射法测量薄膜的热导率
机译:使用3ω方法测量薄膜的热导率和热界面电阻
机译:晶圆上薄膜热导率的测量
机译:通过扫描热探针法对非接触式和接触式探针与样品之间的热交换进行分析,以定量测量薄膜和纳米结构的热导率。
机译:使用微量移液器热传感器基于热传导的单壁碳纳米管薄膜的稳态热导率测量
机译:卤化物钙钛矿薄膜的热导率,热扩散率和体积热容量的同时映射:一种新型纳米镜热量测量技术
机译:用热比较仪测量介电薄膜固体薄膜的导热系数